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新一代深紫外显微镜,揭开超宽带隙半导体材料纳米级特性的神秘面纱IT之家报道,科技媒体scitechdaily于昨日,1月26日,发布博文,公布了一项重大科技进展,美国科罗拉多大学博尔德分校JILA研究所的研究人员开发出一种新型深紫外显微镜,以前所未有的精度揭示了钻石等难以分析材料的电子和热学特性,这一突破性的技术为下一代电子器件的发展...。
2025-01-27 22:26:22
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