Systems引领半导体检测新篇章 Park 尖端科技展现

在2025年韩国半导体展览会上，ParkSystems引领技术革新，发布扩展版FX大型样品AFM系列

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XXXX年，韩国半导体展览会吸引了全球的关注。
作为业内领先的精密仪器制造商，ParkSystems在此次展览会上引领风潮，发布了其最新研发的扩展版FX大型样品AFM（原子力显微镜）系列。
这次新系列的推出，无疑为半导体领域的研究与生产带来了革命性的突破。

一、新品发布：ParkSystems的FX大型样品AFM系列

在展会现场，ParkSystems展示了其全新FX大型样品AFM系列，这一系列产品包括专为300毫米晶圆分析设计的ParkFX300，以及集成了红外（IR）光谱技术的ParkFX200IR和FX300IR。
新系列的发布标志着原子力显微镜技术在半导体材料分析领域的一大跨越，将研究的深度和广度提升到了全新的层次。

二、自动化功能：提升设备可用性与操作流畅性

新系列的突出特点在于其高度自动化的功能设计。
设备配备了自动化探针识别与更换系统，大大降低了操作复杂性和时间成本。
创新的二维码系统使得设备校准与设置更为便捷，大大提高了设备的可用性和操作效率。

值得一提的是，ParkSystems的工程师们还集成了AI驱动的激光对准功能。
这一功能通过机器学习技术，能够自动识别并调整样品的位置与方向，极大地提升了操作的精准度和流畅性。
这些自动化功能的加入，使得研究人员能够更专注于实验本身，而不是繁琐的设备操作上。

三、StepScan功能：提高分析效率

除了自动化功能外，新系列还引入了StepScan功能。
这一功能的加入，使得设备能够在最少人工干预的情况下完成多种特性分析。
StepScan功能通过预设的参数自动进行样品扫描，收集数据并进行分析，从而大大提高了分析效率。
这一创新为研究人员提供了强大的工具，使他们能够在较短的时间内获取更丰富的信息。

四、红外光谱技术：提供多维度分析

ParkFX200IR和FX300IR集成了红外光谱技术，这使得设备不仅能够进行形貌分析，还能够对样品的化学成分进行分析。
红外光谱技术能够提供关于样品化学键和官能团的信息，从而帮助研究人员更深入地了解材料的性质。
这一多维度的分析功能，为半导体领域的研究与生产提供了更全面的视角。

五、应用与影响：为半导体领域带来更高效、更精准的解决方案

ParkSystems的新品发布，为半导体领域的研究与生产带来了更高效、更精准的解决方案。
新系列的AFM设备能够在纳米级别进行高精度分析，从而帮助研究人员更好地理解材料的性质和行为。
设备的自动化功能和StepScan功能的加入，大大提高了研究效率，降低了成本。

ParkSystems在2025年韩国半导体展览会上发布的扩展版FX大型样品AFM系列，是原子力显微镜技术的一大突破。
新系列设备不仅提高了分析的精准度和效率，还为研究人员提供了更多维度的信息。
相信这一技术的推出，将为半导体领域的研究与生产带来革命性的变革。

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